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產品分類引力常量實驗儀/常量實驗儀 型號:DP-J4058根據卡文迪許的扭稱實驗結構行改、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現象,測量有引力恒量G。
型號:DP-J4058儀器參數:
可定性演示驗證有引力的存在,可定量測量引力常量G值,實驗相對誤差﹤5%。
密封膠相容性試驗箱/密封性試驗箱 型號:DP-UV2004
密封膠相容性試驗箱(DP-UVA-340相溶性紫外線輻射照試驗箱,)是GB16776-2005《建筑用硅酮結構密封膠》(附錄A相容性試驗)中的主要檢測儀器之。
儀器具有作狀態記憶、溫度自動控制及輻照時間計時能。當輻照時間到時能自動停機和報警。輻照過程中若外界停電,當恢復供電時,自動啟動并繼續輻照試驗,計時器行累加計時。
儀器滿足GB16776-2005《建筑用硅酮結構密封膠》(附錄A相容性試驗)對密封膠相容性試驗箱(DP-UVA-340)的要求。
主要標:
1、紫外線熒光燈率: 40W×4支
2、溫度測量范圍: 0~65℃
3、溫度控制度: ±0.5℃
4、輻照時間設定值: 0~999小時59分鐘
5、加熱器率: 200W
6、試驗箱外形尺寸: 1250×350×690mm
7、電 源: 220VAC±10% 2kVA
8、殼 體: 不銹鋼
渦流測厚儀 型號:DP-ED400
DP-ED400型渦流測厚儀是DP-ED300型測厚儀的改型,儀器性能大幅度提。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在現場、銷售現場或施現場對產品行快速、無損的膜厚檢查, 可用于檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
DP-ED400型渦流測厚儀與DP-ED300型相比,具有如下特點:
*量程寬 DP-ED400型的量程達到0~500μm。
*度 DP-ED400型的測量度達到2%。
*分辨率 DP-ED400型的分辨率達到0.1μm。
*校正簡便 只校正“0"和“50μm"兩點,即可在量程范圍內保證度。
*基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量
誤差不大于1~2μm。
*可靠性提 采用集成度、穩定性電子器件,電路結構優化,儀器可靠性
提。
*穩定性提 采用的溫度補償,測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
校正次可在現場長期使用。
*探頭線壽命長 采用德口的,在德測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
可大大延長。
*探頭芯壽命長 采用強度磁芯材料,微調了探頭,探頭芯壽命可大大延
長。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測量范圍: 0~500μm
測量度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
渦流測厚儀/便攜式渦流測厚儀 型號:DP-ED300
DP-ED300型渦流測厚儀是種小型便攜式儀器。性能穩定、測量準確、重現性好、經濟耐用,符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流法》。儀器多次通過家計量的性能試驗,獲得計量器具許可證。
DP-ED300型渦流測厚儀,用于測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度。
儀器適于在現場、銷售現場或施現場對產品行快速無損的膜厚檢查。可用于檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器在內鋁型材、鋁門窗、監督、程質檢等行業得到廣泛應用,得到用戶的廣泛信與好評。
儀器特點
﹡校正箔片 作為儀器的計量基準,校正箔片經過家計量檢測,附有檢測
報告。
﹡探頭 對容易受損的探頭做了耐久性,具有防磕碰、防水等防護能。
﹡探頭線 日本口的探頭線使用壽命較長。
﹡儀器防護套 結實的透明塑料儀器套,可保護儀器免受損傷和污染。
﹡經久耐用 DP-ED300型測厚儀對于惡劣的使用環境,頻繁的測量操作適應性較
強。在鋁型材行業十幾年的使用證明,它是種性能優良、可靠實用的儀器
測量范圍: 0~150μm
測量度: ±3%
分 辨 率: 0.1μm
耗: 0.06W
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 280g
標準配置
主機 1臺
探頭 1支
基體 1塊(6063合金)
校正箔片 1套4片(附檢測報告)
使用說明書 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱 1個
可調溫露點儀/露點儀/在中空玻璃點儀 型號:DP-TW-25
1.用途:
DP-TW-25型可調溫露點儀為符合美ASTM E546和E576標準的中空玻璃露點檢測設備。該設備為便攜型的檢測中空玻璃露點的設備,可對水平放置或垂直放置的樣品行測量。DP-TW-25型可調溫露點儀具有冷阱溫度調節范圍大、溫度調節梯度小、冷容量大(規定試驗時間內溫度波動小)、冷散失量小、試驗成本低等特點,在中空玻璃廠家、科研院所、檢測中心及建筑程上已得到了廣泛的應用。
2.主要標:
1. 冷阱有效直徑:Φ25.4mm;
2. 干冰筒容積:Φ75×145mm;
3. 溫度調節范圍:-10至-60℃;
4. 溫度調節梯度:≤±2℃;
5. 溫度波動量:±2℃;
6. 溫度調節示表(百分表)準確性≤±10μm;
7. 數顯溫度計示準確性≤±1℃;
8. 試驗方式:水平樣品或垂直樣品;
注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的